Ўзбекистон республикаси олий ва ўрта махсус таълим вазирлиги қарши муҳандислик иқтисолиёт институти

3.
Nanoindentation: an indentation hardness test applied to
Наноиндентиф
nanoscale volumes at small loads to obtain the hardness of
икациялашнин
individual nanoparticles
г асосий
принципининг
тушунтиринг?
Расмдан
фойдаланинг!
Наноиндентификациялаш: наноўлчамли хажмларга
қўлланилувчи босишдаги қаттиқлик тести, кичик
босимларда
алохида
нанозаррачаларнинг
қаттиқлигини аниқлаш учун
4.
Electron microscope: a microscope that focusses a
Электронмикро
collimated accelerated electron beam on the specimen to
скоп инг асосий
produce a magnified image at atomic resolution
хоссаларнинг
тушунтиринг?
Расмдан
фойдаланинг!
Электронмикроскоп:
тезлаштирилган
электронларнинг коллимирланган дастасини намунага
фокуслаб
атомўлчамидаги
катталаштирилган
тасвирни олиш учун қўлланиладиганмикроскоп
108

---

5.
Microcantilever: a cantilever beam with dimensions in
Микрокантиле
the micrometer scale that is extensively used in the field of
вер нима учун
MEMS, sensors, resonators, etc.
керак? Расмдан
Микрокантилевер: микрометр миқѐсидаги ўлчамли
фойдаланинг!
кантиливерли нур,MEMS сохасида, датчикларда,
резонаторларда ва хкз кенг қўлланилади
6.
Scanning near-field optical microscopy (SNOM):
Сканирловчи
illuminates a specimen through an aperture of a size
яқинхудудли
smaller than the wavelength of light used and with the
оптикмикроско
specimen positioned within the near-field regime of the
пиянинг асосий
source; by scanning the aperture across the sample through