Ўзбекистон республикаси олий ва ўрта махсус таълим вазирлиги қарши муҳандислик иқтисолиёт институти

Фойдаланилган адабиѐтлар
1. David Rickerby Nanotechnology for Sustainable Manufacturing, Taylor and 
Fransis, 2014, 153-197 
4-амалий машғулот: Нанометрология. 
Ишдан мақсад:
Атом-кучланишли
микроскопия
(AFM).
Атом
манипуляцияси.
Нанолитография.
Наноиндентификациялаш.
Электрон
микроскоп.
Микрокантилевер. Сканирловчи яқин худудли оптик микроскопия (SNOM).
Рентгенфотоэлектронспектроскопия (XPS). Ўта ўказувчан 
квантинтерферометр (SQUID).
№
Ишни бажариш учун намуна
Масаланинг
кўйилиши
1.
Atomic force microscopy (AFM) or scanning probe
Атом-
microscopy (SPM): a high-resolution device used to map
кучланишлими
topography or other functional properties of the surface
кроскопия
atoms at atomic resolution capabilities
(AFM) ѐки
сканерловчи
зондмикроскоп
ияси (СЗМ)
асосий
принципини
Атом-кучланишлимикроскопия
(AFM)
тушунтиринг.
ѐкисканерловчи зондмикроскопияси (СЗМ): атом
Расмдан
кўрсатгичли юзадаги атомларнинг тасвирини ѐки
фойдаланинг!
бошқа функционал хоссаларини тасвирлаш учун
қўлланилувчи юқори кўрсатгичли қурилма
2.
Atomic manipulation: atom by atom modification of
Атом
surface structure or chemistry made possible by advanced
манипуляцияси
techniques like atomic force microscope and scanning
нинг асосий
tunnelling microscope
принципини
тушунтиринг?
107

---

Расмдан
фойдаланинг!
Атом
манипуляцияси:
атом-кучланишли
микроскопия ва сканерловчи тунелли микроскоп каби
илғор усуллар туфайли имконияти туғилган юзанинг
тузилишини атом ортидан атом еки кимѐвий
модификациялаш