Umumiy doc

Технологик
 
параметрларни
 
ўлчаш
 
учун
 
МПТ
 
ўрнатилган
 
қурилмаларнинг
 
структура
 
схемалари
:
СЭ
, 
СЭ
1, 
СЭ
2 – 
сезгир
элементлар
; 
О
ЎЭ
,
О
ЎЭ
1, 
О
ЎЭ
2 – 
оралиқ
ў
згарткичли
элементлар
; 
К
,
К
1
, 
К
2
– 
кучайтиргичлар
; 
ЭК
– 
электр
коммутатор
; 
ИФҚ
– 
интер
ф
ейсли
қурилма
; 
Ў
– 
ў
лчов
(
ў
лчовлар
т
ў
плами
); 
БТШҚ
– 
бошқарувчи
та
ъ
сирларни
шакллантириш
қурилмаси
; 
О
Б
– 
операцион
б
ўғ
ин
; 
АРЎ
– 
аналог
- 
рақамли
ў
згарткич
; 
Ч
РЎ
– 
частотавий
– 
рақамли
ў
згарткич
; 
РАЎ
– 
рақамли
– 
аналогли
– 
ў
згарткич
; 
МПТ
– 
микропроцессорли
тизим
; 
и
– 
рақамли
индикатор
.
PDF created with pdfFactory Pro trial version 
www.pdffactory.com

---

330 
yordamida ta’sir funksiyalari orqali ta’sir ko‘rsatuvchi kattaliklarning ta’sirlarini 
hisobga olish o‘lchash qurilmasining xatosini kamaytiradi. Bunday sxemaga ko‘ra 
bosimni, haroratni, sathni, sarfni, hajmni va boshqalarni o‘lchash qurilmalari quriladi. 
Bunda asosiy va yordamchi parametrlar to‘g‘ri va muvozanatlovchi uslub bilan 
o‘lchanishi mumkin. 
9.4-rasm, b da MPT kiritilgan o‘lchov qurilmasining struktura sxemasi 
ko‘rsatilgan bo‘lib, u o‘lchashlarni namunali signallar va birgalikdagi o‘lchashlar 
uslubi bilan amalga oshirishni ta’minlaydi. Mazkur qurilmaning o‘lchov qismi P 
parametrni, M o‘lchovni (o‘lchovlar to‘plamini), shuningdek, P parametr va 
o‘lchovlar to‘plamini birgalikda o‘lchaydi. MPT axborotga ishlov beradi va o‘lchash 
jarayonini boshqaradi. 
Sxema (9.4-rasm, v) bo‘yicha qurilgan o‘lchov qurilmasi tarkibiga operasion 
bo‘g‘in OB kiradi, unda MPT buyruqlariga ko‘ra boshqaruvchi ta’sirlarni 
shakllantirish qurilmasi (BTSHQ) yordamida elementlarni almashtirish uchun zarur 
o‘lchashlar amalga oshiriladi, bularning natijasida o‘lchanayotgan parametr P ning 
sezgir element SE ga ta’siri (ta’sirlari) shakllanadi. 
Sxemalar (9.4-rasm, b, v) massa, hajm, suyuq muhitlarning zichligi va 
boshqalarni yaratishda qo‘llaniladi. 
MPT dan foydalanishning eng samarali usuli ulardan analitik texnika 
vositalarida foydalanish hisoblanadi, bunda asosiy va bir qator yordamchi 
parametrlarni o‘lchash bilan bir qatorda analitik qurilma bo‘g‘inlarini (mantiqiy va 
o‘xshash) boshqarish va axborotga ishlov berish bilan bog‘liq katta hajmdagi 
hisoblashlarni bajarish talab qilinadi. 
9.5-rasm, a da avtomatik sifat analizatorining umumlashtirilgan struktura 
(tuzilma) sxemasi ko‘rsatilgan. Bitta parametrni o‘lchashni amalga oshiruvchi 
analizatorlarda o‘lchov axborotining asosiy signali u yoki bu detektor D yordamda 
analitik qurilma AQ da shakllanadi. Analizatorning xatosini kamaytirish uchun va 
uning bir qator sezgir element yordamida me’yorida ishlashini ta’minlash uchun bir 
qator parametrlarning qiymatlari bo‘yicha statik tavsif tuziladi, analitik qurilmaning 
rejimli parametrlari stabillashadi va tahlil o‘tkazish uchun zarur ulashlar amalga 
PDF created with pdfFactory Pro trial version 
www.pdffactory.com

---

331 
oshiriladi. Oxirgi ikki vazifa MPT tomonidan BTSHQ orqali amalga oshiriladi. 
Analitik blokka tahlil qilayotgan va yordamchi modda (YOM) lardan tashqari 
namunaviy modda (NM) ni uzatish imkoniyati kuzatiladi, bu esa analizatorning 
davriy ravishda o‘zini darajalashini ta’minlaydi. 
Tarkibni tahlil qilishning ko‘p parametrli uslubini amalga oshiruvchi 
analizatorlarda (9.5-rasm, b), tegishli detektorli bir nechta analitik qurilmalardan 
foydalaniladi. 
YOrdamchi va rejimli parametrlarning barcha zarur o‘lchashlarini analitik 
qurilmalar parametrlarini o‘lchash bloki PO‘B bajaradi, u EK bloki bilan 
kommutasiyalanadi (9.5-rasm, b da PO‘B orasidagi bog‘lanish ko‘rsatilmagan). 
9.1-jadval
.