Toshkent viloyati chirchiq davlat pedagogika instituti “Fizika va Kimyo” fakul’teti

K_α nurlar intensivligi K_β nurlarnikidan katta bo’ladi.

K_α da 2 ta xaratktersitik chiziq bor: K_α1 va K_α2.

Diffraksiyada K_α1, K_α2 va K_β xarakterstik renten nurlar ishlatiladi.

K_α1 va K_α2 to’lqin uzunligi orasidagi faqr juda kichik va ular K_α1 dubleti deyiladi.

• 
  Masalan Cu anod uchun ►
  

Anod materillarning xarakteristik rentgen nurlari

• 
  Rentgen nurlari elektromagnit nurlar bo’lib, ular 0,1 nm tartibda bo’ladi.
  
• 
  Retngen nurlari diffraksiyasi interferensiya hodisasiga asoslangan: fazalar mos kelasa konstruktiv, mos kelmasa destruktiv interferensiya bo’ladi.
  
• 
  Tushayotgan nurlar kristallografik tekislik tomonidan diffraksiyaladi va qaytgan to’lqinlar quyidagi bog’liqlik bajarilsa fazalari mos tushgan bo’ladi:
  

• 
  Breg tenglamasi rentgen nuri to’lqin uzunligi, atomlararo masofa va konstruktiv interferensiya diffraksiya burchagini bog’laydi.
  

[2]

• 
  Bu tenglamaga Breg tenglamasi deyiladi.
  

• 
  Tenglamadagi n refleksiya tartibi deyiladi 1,2,3… bo’lishi mumkin.
  
• 
  Diffraksiya usulidan foydalanib materialning kristall tuzilishini aniqlash mumkin.
  
• 
  Masalan, kubsimon kristall panjara parametri (a) bilan tekisliklararo masofa quyidagicha bog’langan:
  

🞂

• 
  Miller indekslari (hkl) o’zaro d_hkl masofadagi parallel tekisliklar qatorini bildiradi.
  
• 
  Yakka kristalldan diffraksiya namunasi Evald sferasi yordamida tasvirlanadi.
  
• 
  TEM yordamida olingan tasvirda Evald sferasi yassi ko’rinadi.
  

• 
  Kukundan (polikristalldan) olingan diffraksiya namunasida
  

Debay xalqasi deyiladi.

• 
  Diffraksiya intensivligi Breg sharti bajarilsa ham tekisliklar orasida farq qilishi mumkin.
  
• 
  Kristalldan diffraksiyalanyotgan rentgen nurlar kristaldagi alohida atomlardagi elektronlar tomonidan sochiladi.
  
• 
  Elektron tomonidan sochilaytogan rentgen nuri intensivligi quyidagi tenglama bilan topiladi:
  

• 
  Bu yerda I₀- tushayotgan nur intensivligi, r- elektrondan detektorgacha masofa, K atom xossalariga bog’liq konstanta.
  

• 
  Tenglamadagi oxirgi qism intensivlikning burchak effektini ko’rsatadi va polyarizatsiya faktori deyiladi.
  
• 
  Atom tomonidan sochilayotgan umumiy intensivlik atomdagi har bir elektron uchun sochilish intensivligidan kichik bo’ladi. Bunga sabab yadro atrofida elektronlarning joylashishiga bog’liq ravishda destruktiv interferensiya manjud.
  
• 
  Atom sochish faktori quydiagicha topiladi:
  

1 ta atom tomonidan sochilgan to^'lqin amplitudasi

• 
  Rentgen nurlarining atomdagi elektronlar tomonidan sochilishi
  

ƒ = _'
1 ta elektron tomonidan sochilgan to lqin amplitudasi

🞂
🞂 Rentgen diffraktometri materialning xossalarini 🞂

o’rganishda eng keng qo’llanadi.
🞂 Dastlab kukunni aniqlash uchun ishlatilgani rentgen kukun diffraktometri deb atalgan.
🞂 Rentgen diffraktometrida bitta to’qlin uzunlikdagi rentgen nurlar polikristall namunani aniqlashda ishlatiladi.
🞂 Rentgen nuri tushayotgan burchakni doimiy o’zgartirib, diffraksiya intensivligi o’lchanadi va spektr olinadi.
🞂 Diffraktometriya yordamida kristall tuzilish va sifat 60 000 dan ortiq diffraksiya spektrlari bazasi bilan solishtirish orqali aniqlanadi.

🞂 Rentgen trubkasida hosil bo’lgan rentgen nurlar ularni 🞂

kollimatlovchi maxsus tirqishdan (Sol’er tirqishi) o’tadi.
🞂 Ajratish tirqishidan o’tgan nurlar namunaga uriladi.
🞂 Namuna tekis shakldagi namuna stolida turadi va diffraksiyalangan rentgen nurlari qabul qilish tirqishida to’lanib detektorga o’tadi.
🞂 Diffraksiyalangan rentgen nurlari detektor tomonidan qabul qilinishidan oldin monoxromator filtr orqali o’tishi kerak ► u K_α nurlardan boshqa nurlarni yo’qotadi va fon signalini pasaytiradi..
🞂
🞂 🞂

🞂 Kristall va amorf holat

🞂 Kristall panjara turlari
🞂 Kristallar sistemasii
🞂 Brave kristal panjaralari
🞂 Rentgen spektroskopiyasi