Tabiiyot-geografiya fakulteti

Moddaning  konsentratsiyasini  darajalash  chizmasi 

asosida  ham  topish 

mumkin.  Fotometrik  asboblarda  ikkita  kyuveta  bo`lib,  ulardan  biriga 

tekshiriladigan  eritma,  ikkinchisiga  esa  erituvchi  solinadi.  Bu  tekshiriladigan  yoki 

etalon  eritmaning  optik  zichligini  erituvchiga  nisbatan  o`lchash  imkonini  beradi. 

Har ikkala kyuvetaga bir xil xajmli eritmalar solinadi. Hozirgi vaqtda asboblarning 

yangi  avlodlari  aniqlanadigan  konsentratsiyalar  oralig`ini  kengaytirishga  imkon 

beradi.  Buning  uchun 

differensial  spektrofotometriya

  usullarini  qo`llash 

mumkin.  Bu  usullar  konsentratsiyasi  katta  bo`lgan  eritmalarni  tekshirish  uchun 

ishlatiladi.  Differensial  spektrofotometriya  usulida  erituvchini  o`rniga  kyuvetaga 

aniqlanadigan  moddaning  standart  eritmasi  solinadi.  Bunda  o`lchanadigan  optik 

zichlik  tekshiriladigan  modda  mutlaq  optik  zichligi  A

t

  bilan  standartning  (nol 

eritma) potik zichligi A

0

 orasidagi farqdan iborat bo`ladi. 

A

t

>A

0

(c

t

>c

0

) bo`lganda A=A

t

-A

0

=εc

t

l- εc

0

l= εl(c

t 

–c

0

). 

A

t

0

(c

t

0

) bo`lganda A=A

0

-A

t

=εc

0

l- εc

t

l= εl(c

0 

–c

t

). 

---

46 

 

Bu  yerda,  c

t 

va  c

0

-nur  yutadigan  moddaning  tekshiriladigan  va  standart 

eritmalardagi konsentratsiyalari. 

Differensial  spektrofotometriya  usulining  bir  va  ikki  tomonlama 

differensial  usullari  mavjud  bo`lib,  uning  ikki  tomonlama  ko`rinishida 

tekshiriladigan eritmaning konsentratsiyasi standart eritmanikidan katta yoki kichik 

bo`lgan  hollarda  ham  aniqlash  mumkin.  Ikki  tomonlama  differensial  fotometriya 

usulida  standart  eritmaning  optik  zichligi  tekshiriladigan  eritmaga  nisbatan 

o`lchanadi,  bunda  optik  zichlik  manfiy  qiymatli  qilib  olinadi.  Bu  usulda  xato 

ozgina  ortganda  aniqlanadigan  konsentratsiyalar  oralig`i  taxminan  2  marta 

kengayadi. Masalan tarkibida kam miqdorli tekshiriladigan modda bo`lgan standart 

eritmadan  o`tgan  elektromagnit  nur  intensivligi  I

cm

  bo`lsa,  tekshiriladigan 

eritmadan o`tgan nurning intensivligi esa I

x

 bo`lganda: 

cl

l

c

c

l

c

l

c

x

cm

x

x

I

I

























10

10

10

10

)

(

0

0

yoki 

)

(

'

lg

0

c

c

l

A

I

I

x

x

cm









bo`ladi. 

Bu  tenglamadan  tekshiriladigan  eritma  bilan  optik  zichlik  orasida 

funksional  to`g`ri  chiziqli  bog`lanish  borligi  ravshan.  Bu  bog`liqlikni  darajalash 

chizmasi  yordamida  tasvirlash  mumkin.  Agar  eritmada  bir  necha  tarkibiy  qism 

bo`lsa,  optik  zichlik  ularning  har  biriga  mos  keladigan  to`lqin  uzunliklarda 

o`lchanadi. Tarkibida ikkita  modda bo`lgan  hol  uchun eritmaning  optik zichliklari 

o`lchanadi va quyidagi tenglamalar tuziladi: 

A

1

=ε

1

c

1

l+”

1

c

2 

   A

2

=ε’

2

c

1

l+”

1

c

2

. 

Bu  yerda,  ε’

1

  va  ε

2

–birinchi  moddaning  λ

1

  va  λ

2

  to`lqin  uzunliklaridagi 

molyar  yutish  koeffitsentlari;  ε’

1

  va  ε’,  –ikkinchi  moddaning  λ

1

  va  λ

2

  to`lqin 

uzunliklaridagi  molyar  yutish  c

1

  va  c

2

  ga  nisbatan  yechilsa,  har  bir  tarkibiy 

qismning  konsentratsiyasi  topiladi.  Uch,  to`rt  yoki  undan  ko`proq  tarkibiy  qismli 

eritmalar  uchun  uch  to`rt  yoki  ko`proq  tenglamalar  olinadi  va  shu  tarzdagi 

o`lchashlardan keyin tegishli konsentratsiyalar topiladi. 

---

47 

 

Fotometrik  o`lchashlar  bo`yicha  miqdoriy  analiz,  shuningdek