«применение современных информационно коммуникационных технологий в проведении реформ в новом узбекистане»

«Yangi O‘zbekistonda islohotlarni amalga oshirishda zamonaviy axborot-kommunikatsiya 
texnologiyalaridan foydalanish» mavzusida Xalqaro ilmiy-amaliy konferentsiya 
Andijon 
 
27-29 oktabr 2021 yil 
63 
Наносимый золь получили путем растворения прекурсора ацетата цинка 
двухводного ацетата цинка [Zn(CH3COO2)2·2H2O] в обезвоженном 
изопропиловом спирте с концентрацией ацетата в растворе 0,1 моль/л в 
качестве стабилизатора в раствор по каплям добавляли диэтиламин и 
перемешивали на магнитной мешалке IKA RH basic 2 до образования 
прозрачного раствора. Молярное соотношение ацетата цинка и диэтиламина 
поддерживалось на уровне 1,0. Для получения пленок при приготовлении золя 
тщательно перемешивали на 5 часов в магнитной мешалке. После 
перемешивания в течение 168 часов происходит образование трехмерной 
кластерной структуры - гель.
Состав золей: 
Прекурсор- ацетата цинка [Zn(CH3COO2)2·2H2O]-2,19 г; 
Растворитель – изопропиловый спирт (C3H8O, CH3CH(OH)CH3)-100 
мл. 
Стабилизатор – диэтиламин (C4H11N, (C2H5)2NH) – 0.75 мл; 
Перед нанесением золя стеклянные подложки тщателньно были отмыты 
в ацетоне, изопропиловом спирте и дистиллированной воде в ультразвуковой 
ванне после чего их сушили в сушильном шкафу при температуре 1000 С. 
На подготовленные стеклянные подложки методом центрифугирования 
со скоростью 2500 об/мин в течение 20 с на воздухе наносили раствор золя. 
Нанесенную пленку сушили при температуре 1200 С в течение 15 минут. Для 
получения желаемой толщины пленки процедуру нанесения и сушки 
повторяли до 10 раз. После нанесения и сушки слоев для удаления остатков 
органических веществ и получения кристаллической структуры пленок ZnO 
их отжигали при температуре 5500 С в течение 30 минут. 
Результаты и обсуждение 
Структурные исследования полученных пленок выполнены на 
рентгеновском дифрактометре XRD-6100. Напряжение рентгеновского 
излучения 40,0 кВ, сила тока 30,0 мА. Диапазон сканирования - 8,0-9,0, 
скорость сканирования - 2 градуса / мин, шаг выборки - 0,02 градуса. 
Результаты экспериментов, полученные с помощью XRD-6100, были изучены 
методом Ритвельда с использованием программы Fullprof. 
Что полученная пленка ZnO обладает несколькими пиками. Слабая 
интенсивность большинства рефлексов ZnO, кроме плоскости (002), указывает 
на частичную кристаллизацию пленки ZnO. Основной пик соответствует 
плоскости (002) положение данного пика 2 θ (34,42) указывает на то, что 
кристаллическая решетка соответствует гегсагональной решетке вюрцита.
Из рис.2 видно рентгенограмме тонкослойной пленка мало угловое 
рассеяние при d/n = 0,2774 нм (2θ = 31,7 °) (111), d / n = 0,2723 нм (2 θ = 32,97 
°) при (002) и d/n = 0,249 нм (2 θ = 36,34 °) наблюдалось широкое диффузное 
отражение с селективными рефлексами кристаллографической ориентации 
(101). Структурная линия (002), наблюдаемая при d / n =0,2723 нм (2θ=32,97°) 
на дифрактограмме, показывает, что она является высокоинтенсивной 

---