Fotoenergetikada nanostrukturali yarimo‘tkazgich materiallar II xalqaro ilmiy anjumani

Fotoenergetikada nanostrukturali yarimo‘tkazgich materiallar

II xalqaro ilmiy anjumani 
 
19-20 noyabr 2021 yil 
345 
направлениями освещения и наблюдения цена одной полосы составляет 

/2. 
Исходя из этого величина минимального смещения, которая приводит к 
реакции 
системы, 
может 
быть 
рассчитана 
из 
формулы:
ΔWmin= 0,5

/256
(5) 
Таким образом, указанные величины могут рассматриваться в качестве 
максимальной (предельной) чувствительности измерительной системы для 
конкретной длины волны излучения лазера.
Однако следует отметить, что здесь не учитывается наличие спекл-шума, 
обусловленного 
шероховатостью 
отражающей 
поверхности 
и 
дифракционным рассеянием в условиях дифракции на границах оптических 
элементов интерферометра. На практике такая предельная чувствительность 
может быть достигнута только при измерениях перемещений объектов с 
зеркальной поверхностью, не образующей высокочастотной спекл-
структуры. 
Приведенные оценки предельной чувствительности DHI-технологии 
были экспериментально подтверждены при исследовании распространения, 
визуализации и измерения параметров волн Рэлея (поверхностных 
акустических волн–ПАВ) в чувствительном элементе гироскопа из ниобата 
лития. Расчетная резонансная частота ПАВ составляла 17МГц. В 
экспериментах 
использовался 
пикосекундный 
импульсный 
лазер 
(λ=0,354мкм), CCD-матрица с размером пикселя 9мкм, система увеличения 
изображения с коэффициентом увеличения 2,57 и авторское программное 
обеспечение – программа IESPIM-2.2.
На рис. 4 иллюстрируется процесс визуализации и измерения 
параметров ПАВ. Здесь: а) – интерферограмма; b) – увеличенный фрагмент 
интерферограммы; с) – поле поверхностных перемещений; d) –
распределение перемещений в сечении вдоль направления распространения 
ПАВ. По горизонтальной оси – значение в пикселях. 1 пиксель соответствует 
3,5мкм на поверхности образца (по результатам калибровки системы Из рис. 
4d видно, что длина ПАВ составляет λ
ПАВ
≈ 245 мкм (70 пикселей × 3,5 мкм). 
Амплитуда колебаний различна для различных точек наблюдаемого участка 
поверхности и лежит в пределах А ≈ 2,5…3, 5 нм. Флуктуации амплитуды 
колебаний связаны с затуханием ПАВ по мере удаления от возбуждающих 
встречно-штырьевых 
преобразователей, 
а 
также 
неоднородностью 
механических свойств подложки. Суммарная величина погрешности при 
этом составила порядка 10%.увеличения). 
Указанные значения предельных характеристик DHI-технологии 
намного превосходят границы применимости метода общепринятые в 
традиционной ГИ. Но, тем не менее, они могут быть улучшены путем 
принятия специальных мер и обеспечить чувствительность к перемещениям 
на уровне менее 1 нм, временну՜ю разрешающую способность, 

---