Федеральное государственное автономное образовательное учреждение высшего образования

2.3.3 Электронная растровая микроскопия 
Для исследования структуры образцов магнезиального камня 
применяли растровый электронный микроскоп фирмы Jeol Interactive 
Corporation, 
Japan 
JSM-6460LA 
со 
следующими 
техническими 
характеристиками:
– увеличение от ×8 до ×100000; 
– ускоряющее напряжение: от 0,1 до 3 кВ (с шагом 10 В), от 5 до 30 кВ (с 
шагом 100 В);
– разрешение: 4,0 нм (при 30 кВ);
– система управления прибором: ЭВМ с ОС Windows XP. 
Поверхность 
сколов 
исследуемого 
магнезиального 
камня 
металлизировали на вакуумном посту напылением слоя платины толщиной 
100 нм.

---

55 
Расшифровку снимков проводили, основываясь на литературных 
данных [23] и результатах микрозондирования образцов рентгеновским 
микроанализатором фирмы Oxford. 
2.3.4 Микроскопия в проходящем свете 
Для исследования структуры, формы ячеек и толщины стенок образцов 
пен использовали микроскоп люминисцентный AXIOSTAR PLUS немецкой 
фирмы 
Carl ZEISS со следующими техническими характеристиками: 
– методы исследования: проходящий свет, светлое и темное поле, 
фазовый контраст, поляризованный свет, люминесценция; 
– объективы: СР-Ахромат, А-План, Ахроплан (4×/5×;10×; 20×; 40×; 
50×МИ; 63×; 100×МИ); 
– окуляры: 10×/18; 10×/20; 16×/16; 
– насадки: бинокулярная (угол наклона окулярных трубок – 45 º и 30 º), 
бинокулярная с фото/видеовыходом, для двух наблюдателей с подвижной 
стрелкой; 
– револьверное устройство для крепления четвертого и пятого 
объективов; 
– координатный стол с керамическим покрытием (право- и 
левостороннее управление); 
– автономный осветитель LEO; 
– система управления прибором: ЭВМ с ОС Windows XP. 
Расшифровку снимков, замер толщины стенок и диаметра ячеек 
проводили с помощью программного обеспечения EVSCameraTools, 
опираясь на литературные данные [138].