О природе минералов 1 Введение



Download 5,2 Mb.
Pdf ko'rish
bet62/120
Sana17.07.2022
Hajmi5,2 Mb.
#817156
1   ...   58   59   60   61   62   63   64   65   ...   120
Bog'liq
Кристаллография

q
имеют общий множитель l
2
/4а
2
,
который мы можем обозначить как
 x.
Если это
установлено, то и на этой основе можно
приступать к индексации. Существуют также гра-
фические методы, и самые простые из них, касаю-
щиеся опять-таки кубических кристаллов, основа-
ны на соотношении . На гра-
фике зависимости а (в нм) от
 d
(в нм) (рис. 4.14)
Гексагональная и тригональная сингонии.
Для
кристаллов этих двух систем, индексируемых по
гексагональным осям, формула выглядит следую-
щим образом:
Заметим, что часть выражения сменилась на
l
2

а
2
.
Ромбическая сингония.
Здесь мы имеем фор-
мулу


Рис. 4.14 Графическая индексация кубических порошковых дифрактограмм.
изображены прямые, позволяющие определить
 d
при различных значениях
α
для некоторых про-
стых миллеровских индексов. Значения
 d
для ли-
ний порошковой дифрактограммы наносятся на
полоску бумаги в том же масштабе, в каком на-
несено
 d
на графике. Затем эту полоску передви-
гают вверх и вниз параллельно оси
 d
до тех пор,
пока значения
 d
на полоске не совпадут с линиями
на графике. Уровень, на котором это произойдет,
дает значение
α
для исследуемого вещества.
Здесь не рассматриваются аналогичные, но су-
щественно более сложные методы для сингоний с
более низкой симметрией.
4.4.5 Дифракция рентгеновских лучей
на монокристаллах
Данный метод используется для исследования
размеров и симметрии элементарной ячейки и
выявления структуры минерала. С его помощью
можно определить положения всех атомов в эле-
ментарной ячейке. Детальное описание методов
определения структуры не входит в задачу на-
стоящей книги, но ряд работ, затрагивающих эту
тему, приведен в конце главы.
При исследовании дифракции рентгеновских
лучей на монокристаллах используется отдельный
кристалл или его фрагмент, обычно имеющий раз-
мер менее 0,5 мм. При этом основная цель за-
ключается в том, чтобы записать по отдельности
каждое отражение от любого из различных ря-
дов плоскостей. Как и в случае методов порош-
ковой дифракции, это можно выполнить фотоспо-
собом с использованием одного из разнообразных
типов камер, предназначенных для изучения мо-
нокристаллов. Отражения можно также фиксиро-
вать электронным способом на монокристалльном
дифрактометре. Монокристалльные дифрактоме-
тры имеются во многих университетах, обычно на
химических факультетах, где они постоянно нахо-
дят применение в исследованиях по определению
структур синтетических неорганических и органи-
ческих соединений.
Фотографирование монокристаллов
При использовании фотометода монокристалл
подвергается рентгеновскому облучению, и возни-
кающие при этом отражения от различных плос-
костей фиксируются на фотопленке в виде набо-


Рис. 4.15 Схема получения фотографии методом Лауэ (а) и лауэграмма, показывающая
шестерную симметрию берилла
 (б).
Рис. 4.16 Прецессионная фотография кристалла берилла при направлении пучка рентгенов-
ских лучей, параллельном шестерной оси.


pa темных точек. По нескольким предваритель-
ным фотографиям кристалл ориентируется таким
образом, чтобы одна из его кристаллографиче-
ских осей или какая-либо важная кристаллогра-
фическая зона оказалась параллельной оси враще-
ния камеры. Симметрия дифракционного рисун-
ка (например, четверная ось или зеркальная сим-
метрия) помогает в определении симметрии кри-
сталла. Существует несколько типов камер для
изучения монокристаллов, но мы ограничим наше
краткое рассмотрение двумя способами фотогра-
фирования монокристаллов.
Фотографический метод Лауэ.
Этот метод
был самой ранней разновидностью рентгеновского
фотографирования монокристаллов. Неподвиж-
ный кристалл облучается белым излучением, и от-
ражения регистрируются на плоском листе плен-
ки, размещенном позади кристалла (рис. 4.15) или
между кристаллом и источником рентгеновских
лучей. В последнем случае пучок проходит через
отверстие в фотопленке.
В силу того что белое излучение содержит ши-
рокий спектр длин волн, для каждой из разных
систем плоскостей решетки в кристалле с раз-
личным межплоскостным расстоянием
 d
найдет-
ся длина волны, соответствующая углу, под ко-
торым эти плоскости располагаются по отноше-
нию к пучку лучей, и эта волна будет отражаться
соответствующей системой плоскостей. Подобным
образом происходит отражение от многих других
плоскостей, и на фотографии получается общая
картина симметрии кристалла. Но поскольку мы
не знаем длину волны, которая отражается какой-
либо системой плоскостей, то не можем устано-
вить межплоскостное расстояние
 d
и, следователь-
но, определить размеры элементарной ячейки.
Прецессионные фотографии.
В прецессионной
камере кристалл облучается монохроматическими
рентгеновскими лучами, и для получения отраже-
ний от множества рядов плоскостей решетки не-
обходимо, чтобы кристалл поворачивался в пуч-
ке на протяжении некоторого углового интерва-
ла. Чтобы предотвратить искажение дифракци-
онной картины во время вращения кристалла в
пучке, плоская фотопластинка вращается (т. е. со-
вершает прецессионные движения) одновременно
с ним, следуя по трехмерной траектории. Поэто-
му с помощью прецессионной камеры можно полу-
чать неискаженные дифракционные картины, ко-
торые позволяют определять как симметрию, так
и размеры элементарной ячейки (рис. 4.16). Пре-
цессионные фотографии часто используют в ка-
честве первого шага в структурных определени-
ях для установления симметрии и элементарной
ячейки кристалла.
Монокристаллыные дифрактометры
Современные определения структуры кристаллов,
будь они минералами, органическими соединени-
ями или белками, опираются на данные, полу-
ченные с использованием монокристалльных ди-
фрактометров. Геометрия дифрактометра такова,
что отражения от каждого отдельного семейства
плоскостей решетки могут быть точно замерены
по отдельности. Исходя из интенсивности различ-
ных отражений, с помощью компьютерных про-
грамм можно определить положение всех атомов в
элементарной ячейке и, следовательно, структуру
кристалла. Теоретические представления о связи
интенсивности отражений с распределением ато-
мов описаны в работах, приведенных в библиогра-
фии в конце главы.

Download 5,2 Mb.

Do'stlaringiz bilan baham:
1   ...   58   59   60   61   62   63   64   65   ...   120




Ma'lumotlar bazasi mualliflik huquqi bilan himoyalangan ©hozir.org 2024
ma'muriyatiga murojaat qiling

kiriting | ro'yxatdan o'tish
    Bosh sahifa
юртда тантана
Боғда битган
Бугун юртда
Эшитганлар жилманглар
Эшитмадим деманглар
битган бодомлар
Yangiariq tumani
qitish marakazi
Raqamli texnologiyalar
ilishida muhokamadan
tasdiqqa tavsiya
tavsiya etilgan
iqtisodiyot kafedrasi
steiermarkischen landesregierung
asarlaringizni yuboring
o'zingizning asarlaringizni
Iltimos faqat
faqat o'zingizning
steierm rkischen
landesregierung fachabteilung
rkischen landesregierung
hamshira loyihasi
loyihasi mavsum
faolyatining oqibatlari
asosiy adabiyotlar
fakulteti ahborot
ahborot havfsizligi
havfsizligi kafedrasi
fanidan bo’yicha
fakulteti iqtisodiyot
boshqaruv fakulteti
chiqarishda boshqaruv
ishlab chiqarishda
iqtisodiyot fakultet
multiservis tarmoqlari
fanidan asosiy
Uzbek fanidan
mavzulari potok
asosidagi multiservis
'aliyyil a'ziym
billahil 'aliyyil
illaa billahil
quvvata illaa
falah' deganida
Kompyuter savodxonligi
bo’yicha mustaqil
'alal falah'
Hayya 'alal
'alas soloh
Hayya 'alas
mavsum boyicha


yuklab olish