Kimyo texnologiya

U. Kelvin esa o‘lchash to‘g‘risida shunday degan; “Har qanday narsa uni qay darajada o‘lchanish darajasi orqali aniqlanadi”.

Galilio Galiley o‘lchash fanini va uning mohiyatini juda chuqur anglagan va shunday degan edi: “O‘lchash mumkin bo‘lganini o‘lchang, mumkin bo‘lmaganiga esa imkoniyat yarating”.

Filosoflarning talqinicha fizikaviy xossalar, jarayonlarni tekshirish, o‘rganishda eng asosiy yo‘l (metod) o‘lchashlar hisoblanadi.

Texnik sohasida esa o‘lchashlarning ahamiyati texnologik jarayonlarni boshqarish, mahsulotning yuqori sifatliligini ta’minlash, obyektni boshqarish, nazorat qilish bo‘yicha informatsiya hosil qilinishi bilan belgilanadi.

Endi esa o‘lchashlarni fanda tutgan ahamiyati (roli) to‘g‘risida to‘xtalamiz. O‘lchashlar haqidagi fanning tarixi minglab yillarni tashqi l etadi. Xalq xo‘jaligida, ishlab chiqarishda qo‘llanilayotgan murakkab tizimlarning yaratilishi o‘z navbatida xususan metrologiya va o‘lchashlar texnikasining har xil sohalarini rivojlanishi istiqbolini ochib bermoqda. O‘lchash haqidagi fanning, ya’ni metrologiyaning rivojlanishi o‘z navbatida institutimizda informatsion o‘lchash texnikasi va texnologiyasi bo‘yicha ilmiy tadqiqot ishlarini avtomatlashtirish bo‘yicha nazariy metrologiya bo‘yicha yangi o‘quv mutaxassisliklari yo‘nalishlarini ochilishiga sabab bo‘lmoqda. Bu esa albatta, deyarli hamma yo‘nalish mutaxassislarining metrologiya bo‘yicha bilim va ko‘nikmalarini yuqori bosqichga ko‘tarishni taqozo etadi. Shu sababli ilgaridan qo‘llanib kelayotgan kam quvvatli, inertli asboblar sekin-asta juda tezkor, yuqori unumdorli asboblar bilan almashtirilmoqdaki, bu o‘lchash amalini bajarayotgan shaxslarning faoliyatini va albatta tabiiyki ularga qo‘yiladigan talabni ham o‘zgartirmoqda.

Hozirgi kunda o‘lchash jarayonlarini avtomatlashtirilishi, kompyuterlashtirilishi va zamonaviy texnologiyalarning ishlatilishiga faqat programmalashtirilgan tizimga tayangan holda erishish mumkin. Zamonaviy metrologiyaning rivojlanishida murakkab empirik (tanlash, ilg‘ash) metodlarini, ehtimollik nazariyasiga tayangan holda statistik metodlarini qo‘llanilishi katta o‘rin tutmoqdaki, bu metrologiyaning ilmiy asoslarini tashqi l etadi.

Ilmiy tadqiqot o‘tkazishda yoki ishlab chiqarishda biror o‘lchashni amalga oshirish uchun, avvalo: 1) nima o‘lchanishi kerak yoki o‘lchash obyekti aniqlanishi kerak va u obyekt qanday fizik kattaliklar orqali harakterlanadi; 2) qanday vosita yordamida o‘lchanadi, ya’ni talab etiladigan natijaga erishish uchun eng optimal (maqbul) variantli o‘lchash vositasini ishlatish zarur va nihoyat; 3) o‘lchash qanday aniqlikda olib borilishi zarur. Boshqacha qilib aytganda, dastavval o‘lchash masalasi aniq belgilanib olinishi kerak.

O‘lchashlar sanoatning qaysi sohasida elektro-energetikadami, mexanika sohasidami, tibbiyot sohasidami, ilmiy izlanishdami va xokazo kattaliklarni o‘lchash aniqligiga qo‘yiladigan talablarni umumlashgan holda ma’lumotlar orqali berilishi mumkin.

O‘lchashlarni yuqoridagi majmui albatta yuqori darajada tashqi l etilgan va zamonaviy asboblar infrastrukturasi bilan jihozlangan milliy o‘lchash tizimi yordamida hamda o‘lchashlar birliligini, ularning ishonchliligini aniqligini ta’minlash shartlari bajarilishi bilan amalga oshirilishi mumkin.