Измерение параметров интегральных микросхем Студент должен: иметь представление

Измерение параметров и проверка работоспособности ЦИМС. Испытания ЦИМС проводятся одним из трех основных методов: статическим, динамическим, тестовым (функциональным).
Статические испытания выполняются на постоянном токе путем измерения статических параметров ЦИМС.
Динамические (импульсные) испытания выполняются в импульсных режимах путем измерения динамических параметров.
Тестовые (функциональные, или стендовые) испытания обеспечивают моделирование рабочих режимов, которое позволяет имитировать реальные рабочие режимы. Работоспособность ЦИМС определяется в рабочих условиях. Тестовые испытания реализуются с помощью промышленных испытателей (группа Л2), характерными особенностями таких испытателей являются проверка логических элементов одно-, двух- и трехступенчатой логики; необходимость составления для каждой конкретной логической ЦИМС индивидуальной программы испытаний — таблицы истинности, основываясь на законах алгебры логики.
Такой испытатель не позволяет проверять триггеры, регистры, счетчики, дешифраторы и микропроцессоры.
Для проведения тестовых испытаний необходимо выполнить подготовительную работу, выписав из справочной литературы следующую информацию:
• тип корпуса ИМС с указанием номера 1-го вывода для правильного последующего подключения микросхемы к адаптеру;
• номера выводов, на которые необходимо подать напряжение питания микросхемы;
• значение напряжения питания;
• номер вывода заземления;
• значения напряжений, соответствующих уровням логической «1» и логического «0» ( и );
• номера выводов, соответствующих входам и выходам ИМС;
• структурную схему ЦИМС.
На основании справочных сведений по двум последним пунктам составляют программу испытаний (таблицу истинности с дополнительной графой для записи результатов измерения напряжения).
К каждому выходу ЦИМС последовательно подключат электронный вольтметр, которым измеряется выходное напряжение логического элемента при разных комбинациях сигналов на входе микросхемы ( в соответствии с составленной программой испытаний).
Сравнение ожидаемого значения напряжения с измеренным значением позволяет сделать вывод о работоспособности ЦИМС.
Испытатели ЦИМС , работа которых основана на тестовой проверке ,позволяют проверить общую работоспособность микросхемы и требуют продолжительного времени при подготовке и собственно испытаний.