Innovation in the modern education system

2.4. Ikkilamchi ionlarni mass spektroskopiyasi (IIMS)

IIMS qattiq jismni sirtini tadqiq qilishni fizik metodlaridan biridir.
Ikkilamchi ionlarni mass-spektrometriya usuli o’rganilayotgan materialni birlamchi zaryadlangan zarralar dastasi yordamida changlatishga va bu changlangan ionlarni massa sonini o’lchashga asoslangan.
Uning printsipial sxemasi 2.6- rasmda tasvirlangan. Changlanish jarayoni 2.7-rasmda tasvirlangan. Namuna tekshirish yuqori vakuum sharoitida amalga oshiriladi, chunki bu holda ikkilamchi ionlar atrof muhit molekulalari bilan to’qnashmasligi, shuningdek o’lchash vaqtida atrof muhitdagi gazlar zarralarining o’rganilayotgan sirtga adsortsiya bo’lmasligi kerak. Namuna 0,1 –
100 keV energiyali birlamchi ionlar dastasi (Xe,⁺ Cs⁺, Ca⁺) bilan bombardimon qilinadi. Sirt bilan to’qnashgan birlamchi ionlar ikkilamchi zarrachalarni urib chiqaradi, bu ikkilamchi ionlarni 5% dan oz qismi odatda sirtni ionlashgan holatda tark etadi. Bu ionlar fokuslanadi va mass-analizatorga tushadi, bu yerda ular massasini zaryadiga nisbatiga qarab ajraladi. Keyin ular detektorga tushadi. Detektor esa ikkilamchi ionlarni tok intensivligini qayd qiladi va EHM ga ma’lumot yuboradi.
IIMS quyidagi imkonyatlarga ega:
1. hech qanday maxsus tayyorgarliksiz istalgan qattiq jismni analiz qilish mumkun.
2. vodoroddan to transuran elementlargacha bo’lgan hamma elementlar analiz qilinadi.
3. hozirgi zamonaviy asboblarda metodning sezgirligi konsentratsiya
bo’yicha 1 sm ³ da 10 ¹²-10¹⁶ aralashma atomini tashkil qiladi.
4. materiallarni 30-100 A chuqurlikda qatlamlar bo’yicha analiz,elementlar konsentratsiyasini profilini tadqiq qilish;
5. faqat alohida elementlar emas, kimyoviy birikmalar xam analiz qilinishi mumkun.
6. Massa sonining diapazoni 1 – 250 m.a.b.
7. Massa sonini, spektral chiziqlar intensivligini bilgan holda tekshirilayotgan ob’ektni sifatiy va miqdoriy tarkibini aniqlash mumkun.