Barcha maruza mashg‘ulotlarni nazariy qismi, maruza mashg‘ulotlarni o‘tkazish uchun topshiriq, nazorat savollari va adabiyotlar ro‘yxati keltirilgan

1. Integral soya usuli (ISU).

ISU bilan o‘lchovchi har qanday optoelektron qurilmani ishlash jarayoni 1.1-rasmdagi blok-sxema yordamida tushuntirish mumkin. YOrug‘lik manbai 1 yorug‘lik oqimini hosil qiladi. YOrug‘likning F₀ ga teng qandaydir qismi cheklagich 2 yordamida kesiladi va fotopriyomnik FP ga jo‘natiladi. CHeklovchi element vazifasini fotopriyomnikning yorug‘likga sezgir sirtlari chegarasi yoki tiniq bo‘lmagan plastinada maydoni a₀=dh ga teng tirqish chegaralari bajarishi mumkin. O‘lchash ob’ekti (O‘O) 3 yorug‘lik oqimi F ning yo‘liga joylashgan bo‘lib, bu oqimning bir qismini berkitib turadi.

SHunday qilib, F_FP ga teng bo‘lgan F₀ oqimning bir qismi fotopriyomnikga tushadi. Bunda F_FP ning qiymati nazorat ob’ekti joylashuviga yoki uning o‘lchamlariga bog‘liq bo‘ladi [8].
Integral soya usuli yordamida nazorat qilinayotgan ob’ektning kesim yuzasini, ko‘ndalang chiziqli o‘lchamini yoki chetlarining holatini o‘lchash mumkin.
O‘lchashning uchala usuli xususiyatlarini ko‘rib chiqamiz.
Kesim yuzasi a_x ni o‘lchashda, 1.1.a-rasmda ko‘rsatilganidek to‘lasicha yorug‘lik oqimi F chegaralarida joylashishi kerak. Bunda, ob’ekt 3 tiniq bo‘lmagan hol uchun, fotopriyomnikka kelayotgan oqim quyidagi ifoda bilan aniqlanadi


F_fp=F₀(1 – a_x/a₀) (1.1.1)
Fotopriyomnikka tushayotgan yorug‘lik oqimlari F_fp bilan fotopriyomnik chiqishidagi elektr signal U_f orasidagi chiziqli bog‘lanishni ta’minlovchi rejimda ishlaganda, quyidagi bog‘liqlikga ega bo‘lamiz
U_F=K_nF₀(1 – a_x/a₀) (1.1.2)
bu erda K_n – mutanosiblik (proporsional) koeffitsienti.
1.1.2 ifodadan, o‘lchanayotgan kesim yuzasini elektr signali qiymati bo‘yicha aniqlash mumkinligi kelib chiqadi:
(1.1.3)
bu erda S_a=a₀K_nF₀


1.1-rasm. Integral soya usuli.

Silindr ko‘rinishidagi tortilgan ob’ekt 3 ni (masalan, ipni) d_x diametrini ISU bilan o‘lchashda ob’ekt tirqishga nisbatan 1.1,b-rasmda ko‘rsatilganidek joylashishi kerak. Bu holda biz a_x=d_xh ga ega bo‘lamiz, bu esa (1.1.1) va (1.1.3) ifodalardan mos holda quyidagilarni olishga imkon beradi:

F_FP=F₀(1 – d_x/d); U_f=U_nF₀(1 – d_x/d)
Bundan izlanayotgan kattalik d_x=d–C_d ^. U_f aniqlanadi, bu erda S_d=d(K_nF₀).
Natijada, ISU bilan o‘lchanayotgan qo‘zg‘almas ob’ekt qirralari holati, ya’ni ma’lum bir bazadan o‘lchangan l_x masofadagi ob’ekt 1.1.v-rasmda ko‘rsatilganidek joylashadi. Agar, nazorat ob’ekti soyasining qirrasi tirqish kengligi bo‘yicha to‘g‘ri chiziq hosil qilsa:
F_FP=F₀ (1 – l_h/h); (1.1.4)
tanlangan bazaga bog‘liq ravishda o‘lchanayotgan b_x kattalik turli hollarda l_h bilan bog‘liqdir. SHunday qilib, tirqishni quyi qirrasi holatini baza deb olib quyidagiga ega bo‘lamiz: l_x= l_h .
Agar sanoq bazasi qilib tirqish simmetriyasining gorizontal o‘qi tanlansa, l_x= l_h - 0,5 h bo‘ladi.
l_x = l_h ,bo‘lganda (1.1.4) ifodaga asosan,
l_x = h – C_e U_f , bu erda S_e=h/(K_fF₀)
YUqorida ta’kidlanganidek, nazorat ob’ekti foydalanilayotgan yorug‘lik to‘lqin uzunliklari uchun to‘la tiniq emas, lekin ko‘rib o‘tilgan hamma soya usullarini foydalanilayotgan yorug‘lik to‘lqin uzunliklarida yarim tiniq nazorat ob’ektlarida ham qo‘llash mumkin. Ammo bunda usulning sezgirligi mos holda kamayib boradi va yorug‘lik oqimining ob’ekt orqali o‘tishida yo‘qotish koeffitsientining doimiy emasligi o‘lchash xatoligini yuzaga keltiradi.