Handbook of Photovoltaic Science and Engineering

7.3.2.2 Doping level and type
Both laboratory record-efficiency and industrial cells use boron-doped substrates. Rather
than fundamental advantages [46], there are practical (properties of P diffusion, easiness
of Al alloying) and historical reasons for this preference [47]. However, the situation may
change once the role of boron in the degradation of Cz-Si cells under illumination has
been established [48].

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CRYSTALLINE SILICON SOLAR CELLS
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The optimum substrate doping depends on the cell structure and dominant recom-
bination mechanism. Though intrinsic substrates present the advantage of highest Auger-
limiting lifetimes, higher doping is favored when SRH recombination is present, since
recombination is proportional to the excess density that decreases, for a given voltage, as
doping increases [29]. This is balanced with a reduction of the lifetime itself.
A high doping also helps in minimizing the series resistance losses associated to
the transport of carriers to the back face in thick cells with the majority carrier contact at
the back.
Doping levels in the 10
16
cm
−
3
range are found in the substrate of industrial cells.
Very high efficiencies have been obtained with both low (1

·
cm for PERL cells) and
high substrate resistivities, as in the point-contact cells [33].
7.3.2.3 Thickness
From the point of view of electrical performance, the choice of the optimum substrate
thickness also depends on the structure and the quality of the materials and involves
several considerations. In cells with diffusion lengths longer than the thickness, the most
important issue is surface recombination: if
S
at the back is higher than
D/L
for the
minority carriers in the substrate (around 250 cm
·
s
−
1
for the best cells), thinning the cell
increases recombination at a given voltage, and vice versa. Thinner cells always absorb
less light as well, which is attenuated by light-trapping techniques. Passivated emitter and
rear locally diffused (PERL) cells were reported to improve when going from 280- to
400-
µ
m thickness because of a (relatively) high rear surface recombination and nonideal
light-trapping [49].
The losses associated with the transport of carriers extracted at the nonilluminated
face decrease with thinning: in conventional structure cells; this leads to decreased series
resistance. In back-contacted cells, both types of carriers benefit from thinning and the
trade-off in absorption leads to lower
w
values, around 150 to 200
µ
m.
The diffusion length of industrial cells (around 100
µ
m) is generally lower than
thickness. These cells are rather insensitive to thinning because they collect only the
generation near the contact and are not affected by rear surface recombination. The
driving criteria are cost and fabricability. A thickness in the 200- to 300-
µ
m range is
usually employed but there is a clear trend toward thinner wafers for saving expensive
silicon material [47], and advanced wafering techniques and procedures to process very
thin, large-area substrates without breaking are being developed: light-trapping and back
recombination will become increasingly important.