Conference proceedings

Açar sözlər.
Dekstruktiv, mikroprosessorlu qurğular, nəzarət qurğusu. 
Hüseynova P. İ 

---

Adaptiv ölçmə və hesablama sisteminin inkişafı materiallarin termal xüsusiyyətləri ölçü zəncirinin alqoritmi və 
quruluşunun təhlili, adaptiv strategiyalar və mikroprosessor sistemlərinə təsir göstərən sabitliyi pozan amillərin təhlili 
əsasında həyata keçirilir. Eyni zamanda, materiallarin termal xüsusiyyətlərinin ölçülməsi alqoritminə uyğun olaraq, tədqiq 
olunan obyekt üzərində müəyyən bir istilik effekti təmin etmək, ölçmə nəticələrinin metroloji səviyyəsini artırmaq üçün 
uyğunlaşma strategiyalarını müəyyənləşdirmək, düzəltmək və idarə etmək lazımdır. Ölçmə sxemləri mikroprosesor 
sisteminə siqnal ötürülməsi zamanı yüksək səs-küy toxunulmazlığını, parametr işlənməsinin sabitliyini təmin edən 
rəqəmsal formaya sonrakı çevrilmə üçün nəbz tezliyi və ya nəbz şəklində ölçmə məlumatlarını əmələ gətirir. Bundan 
əlavə, mikroprosesor sisteminin sabit işləməsi üçün, mikroprosesor sisteminin əsas bloklarına təsir edən daxili və xarici 
müdaxilələr nəzərə alınmalıdır. İnkişaf etdirilmiş dekstruktiv mikroprosesor sisteminə nəzarət metodunu tətbiq edən bir 
mikroprosesor sistemi inkişaf etdirərkən, bütün mikroprosesor sistemi cihazlarının işinin yüksək sürətini və 
sinxronizasiyasını təmin etmək lazımdır. Bu metodun alqoritmi sabitləşdirici amillərin təsiri altında tədqiq olunan 
obyektin parametrlərinin müəyyənləşdirilməsini əhatə edir və tədqiq olunan obyektin səth pürüzlülüyünü idarə etmək 
üçün bir cihaz əlavə olaraq istifadə olunur [1]. 
Mikroprosesor sisteminə təsir edən sabitliyi pozan amillərin təhlili, ayrı-ayrı struktur bloklarının fəaliyyətinə 
təsir edən təsir edən amillərin müəyyənləşdirilməsi nəticəsində həyata keçirilir. Sabitləşdirici amillərin təhlilinə əsasən, 
əsas blokların komponentlərinin ümumi səhvinin azaldılması metodları müəyyənləşdirilir [2].
Əsas ölçmə dövrələrində faydalı siqnal xaricindəki hər hansı bir elektrik siqnalı müdaxilə kimi qəbul edilir. 
Müdaxilə dövrə bölmələrinin birləşmələrindəki istilik effekti və qalvanik qarşılıqlı təsirdən, müxtəlif dövrə 
elementlərindəki istilik səsindən, faydalı siqnal mənbələrindəki daxili səsdən qaynaqlanan daxili səs mənbələrini əhatə 
edir. İşləyən bir mikroprosesor sistemi xarici mənbələrdən gələn radiasiyadan da təsirlənir. Yuxarıda göstərilən müdaxilə 
induktiv, tutumlu və müqavimətli əlaqələrin olması səbəbindən, faydalı siqnalın konversiyasının müxtəlif hissələrində 
parazitar potensial fərqinin meydana gəlməsinə və ölçmə və məlumat dövrələrinin elementlərindən keçən cərəyanların 
axmasına səbəb olan elektrik və maqnit sahələri yaradır. Əsas ölçmə dövrələrinə təsir edən müdaxilə instrumental və 
alqoritmik metodlardan istifadə etməklə aradan qaldırıla bilər. İnstrumental metodlar bunlardır: ekranlaşdırma, 
topraklama, təcrid, dövrə empedans dəyərinin tənzimlənməsi, kabel seçimi və s. Alqoritmik metodlara aşağıdakılar 
daxildir: xətti və qeyri-xətti filtrasiya; anormal ölçülərin rədd edilməsi və s. Ölçmə sahəsindəki temperaturu idarə edərkən, 
istilik detektoru, idarə olunan obyektdəki ilkin temperatur paylanmasını da poza bilər. Nəticədə, əlverişsiz ölçmə 
şəraitində, temperatur ölçülməsində metodoloji bir səhv ola bilər. Kontakt istilik müqavimətinin azaldılması metodu 
ölçmə sahəsindəki təmas səthlərinin (istilik sondası və tədqiq olunan obyekt) diqqətlə işlənməsindən və aralarındakı qaz 
qatının daha keçirici bir maddə ilə əvəz edilməsindən ibarətdir. Ətraf mühitin nəminin təsiri, termofiziki ölçmələr zamanı 
termal probu təsir edən mühüm sabitliyi pozan amillərdən biridir. Buna görə termofiziki xüsusiyyətləri təyin etmək və 
əldə olunan nəticələrə əsasən obyektin xüsusiyyətlərini proqnozlaşdırmaq lazımdır [3, 4].