Asian Journal of Multidimensional Research (ajmr)

Production of Al-modified bentonite by Zol-gel method: 

The aqueous suspension of bentonite 

(ratio of solid and liquid phases 1:10, aqueous extract of the suspension pH i 8) was left to swell 

at  room temperature for  one day, then treated with  ultrasound  at  22 Gts  for good dispersion of 

bentonite  particles  for  3  minutes.  Hand-held  bentonite  was  prepared  by  hydrolysis  of  0.2  M 

solutions  of  aluminium  (III)  chloride  and  sodium  hydroxide  at  room  temperature  to  obtain  an 

intercalar  solution  ([OH

-

]/[Al

3+

]=2,0).  The  solution  was  aged  at  50  24  for  24  h.  Under  these 

conditions, polyhydroxycation [Al

13

O

4

(OH)

24

(H

2

O)

12

]

7+

 complexions were formed. This solution 

was  then  added  dropwise  to  the  intercalating  solution  suspension.  and  postponed  for  a  day. 

Separation, washing, drying and firing of samples are carried out according to a similar method 

of obtaining Fe-modified samples. Differential thermal analysis was performed using NETZSCH 

STA 409 PC/PG derivatography (sample weight ~ 50 mg) in a temperature range from 20 to 800 

℃

 (heating rate 10 °/min). X-ray phase analysis of the catalyst was performed on an Advanced 

D8 diffractometer  (Brucker, Germany)  at  an angle of 2TH reflection from  20 to  80° in  CuK

a

  -

monochromatic radiation. Phase identification of crystalline compounds was performed using the 

JCPDS  PDF2  X-ray  powder  standards  database.  The  adsorption  and  texture  properties  of  the 

obtained samples  were evaluated by volumetric method from physical adsorption-desorption of 

low  temperature  (77  K)  nitrogen  in  ASAP  2020  MR  surface  area  and  porosity  analyzer 

(Micromeritics, United States). The surface morphology of the catalyst was studied using a JSM-

5610  LV  scanning  electron  microscope,  JEOL  (Japan).  Qualitative  and  quantitative  analysis  of 

the element composition of sorbents was carried out on the energy-dispersion X-ray fluorescent 

spectrometer  by  the  method  of  fundamental  parameters  EDX-720  (SHIMADZU,  Japan).  The 

principle  of  operation  of  the  spectrometer  is  based  on  the  measurement  of  the  intensity  of 

fluorescent radiation by detectable atoms, which are stored in the test under the influence of X-

rays.  A  semiconductor  detector  cooled  with  liquid  nitrogen  was  used  to  record  X-ray  radiation 

quanta in an energy-dispersion spectrometer.