Программа «Фундаментальные исследования и высшее образование» Ge в эпитаксиальных пленках SixGe1-x/Si методом Оже-спектроскопии. Описание лабораторной работы / Сост. Г. А. Максимов, Д. Е. Николичев, М. В. Канышина. — Н. Новгород: изд-во Нижегородского государственного университета, 2002 Программа 0,73 Mb. 11