| Кристаллографик йўналишдаги Si тагликка шишани сурташ йўли билан тайёрланди. Шишани сурташ эса, SiO SiO2–30%, PbO–50%, B2O3–15 тартибда танланди. Шунингдек, тадқиқ этилаётган шишада алюминий ва тантал оксидлари массаларини 5% дан улиши қўшилди, ишқорий металлар оксидлари Ka2O ва Na2O массалари улуши эса 0,01% дан ортиб кетмади 26,13 Kb. 1 | o'qib |